近几年太阳能市场经历了巨大增长，太阳能系统使用寿命的预期一般为20、30甚至是40年。在此背景下，恰当的针对系统长期耐久性能的加速老化测试显得至关重要，而准确的环境测试也被提高到了和产品开发、质量控制和认证测试一样重要的地位。针对上述情况，阿特拉斯材料测试技术公司和Underwriters laboratories (UL)非常高兴举办此次为期两天的会议，为全球环境测试领域的同仁搭建一个沟通和交流的技术平台。通过Atlas/UL光伏耐久性亚洲会议这一平台，您将聆听到来自全球各地的太阳能行业顶尖专家分享他们在有关光伏耐久性方面，诸如环境耐久性研究和创新发明、材料性能和使用寿命拓展、以及配件和光伏组件认证测试等最新研究进展。
会议主题及演讲者
- Sarah Kurtz博士－美国可再生能源实验室 （National Renewable Energy Laboratory，NREL），美国
太阳能行业的可靠性挑战
- Michael Köhl先生－德国弗琅霍夫太阳能系统研究所（Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems，ISE），德国
从气候数据来看加速老化测试的条件
- William Gambogi先生－美国杜邦光伏解决方案 （DuPont Photovoltaic Solutions），美国
组件背板在光伏组件性能及可靠性方面的作用
- 谷晓红博士－美国国家标准与技术研究院 （National Institute of Standards & Technology，NIST），美国
在光伏用高分子材料寿命周期预测中应用基于可靠性的方法
- Crystal Vanderpan博士－Underwriters Laboratories（UL），美国
当前光伏标准--对聚合物的要求和测试方法
- Allen Zielnik先生-阿特拉斯材料测试技术公司 （Atlas MTT LLC），美国
合格评定与质量检测--您的光伏组件可以使用5-10年以上吗？
- 蒋李望先生－扬州杨杰电子技术有限公司，中国
光伏旁路二极管的耐用性分析和失效预防
- Werner Herrmann博士－德国TüV莱茵集团（TüV, Rhineland Group），德国
光伏组件在不同气候条件下的耐候性研究--三年户外运行过程中的衰降行为
- 季良俊先生－Underwriters Laboratories（UL），美国
光伏系统失效的经验和教训
- 冯炜先生－中国国网电力科学研究院，中国
并网光伏逆变器检测研究
- 张志军博士－阿特拉斯材料测试技术公司 （Atlas MTT LLC），美国
氙弧仪器在光伏封装材料高光通量测试中的应用
- 吴鸿森先生－台湾工业技术研究院，台湾
光伏组件包装的震动测试
- 许炎山先生－美国TA仪器公司，中国
应用热分析和流变学技术改进光伏组件制造的效率、生产率和可靠性
- Murray Cameron博士－欧洲光伏工业协会及菲尼克斯太阳能公司 （European Photovoltaic Industry Association，EPIA & Phoenix Solar AG），德国
积极应对全球太阳能产业快速成长带来的耐久性挑战
注：最终的演讲人视会议安排情况可能会略有变动
会议费用：2500人民币/（370 美金）/人*
费用包含会议资料、午餐、茶点以及2010年12月7日的会议晚餐。费用不包含住宿、交通或其他相关费用。
*请务必咨询您如何获得会议折扣资格。
报名截止日期：2010年11月15日
